的(de)原理是控(kong)制(zhi)內部功(gong)率(lv)MOSFET或晶體管(guan)的(de)導(dao)通量(量占空比大小),靠功(gong)率(lv)管(guan)的(de)耗(hao)散功(gong)率(lv)消耗(hao)電能的(de)設備(bei)，它能夠準(zhun)確檢測出負載(zai)電壓(ya)，精確調整負載(zai)電流(liu)，同時可以(yi)實現模擬(ni)負載(zai)短路(lu)，模擬(ni)負載(zai)是感性(xing)(xing)阻性(xing)(xing)和(he)容性(xing)(xing)，容性(xing)(xing)負載(zai)電流(liu)上升時間(jian)。 一(yi)般開關(guan)電源的(de)調試檢測是*的(de)。

電(dian)(dian)子(zi)負載(zai)可以模擬真實環境中的負載(zai)(用(yong)電(dian)(dian)器(qi))。它有恒流(liu)(liu)、恒阻、恒壓和(he)恒功(gong)率功(gong)能。電(dian)(dian)子(zi)負載(zai)分為直流(liu)(liu)電(dian)(dian)子(zi)負載(zai)和(he)交流(liu)(liu)電(dian)(dian)子(zi)負載(zai)，由(you)于電(dian)(dian)子(zi)負載(zai)的應用(yong)面問題(ti)，本(ben)文主要(yao)介紹直流(liu)(liu)電(dian)(dian)子(zi)負載(zai)。

電(dian)(dian)子(zi)負(fu)(fu)載一般分為單(dan)體(ti)(ti)電(dian)(dian)子(zi)負(fu)(fu)載和多體(ti)(ti)電(dian)(dian)子(zi)負(fu)(fu)載，此劃分針對用(yong)戶需求，待(dai)測(ce)物(wu)單(dan)一或需多個(ge)同時測(ce)試而定(ding)。我們就以具有代表(biao)性(xing)的(de)多體(ti)(ti)電(dian)(dian)子(zi)負(fu)(fu)載為例來(lai)說明，選取了各個(ge)廠商的(de)代表(biao)性(xing)產品:安(an)捷倫(lun)N3300A系列，CHROMA63100系列，博(bo)計3310D系列和艾德克斯IT8700系列為例針對電(dian)(dian)子(zi)負(fu)(fu)載的(de)選型加以說明。

可編程電(dian)源(yuan)-電(dian)子負(fu)(fu)載(zai)(zai)可以模(mo)擬真實環境中的(de)負(fu)(fu)載(zai)(zai)(用(yong)電(dian)器)，一般對電(dian)源(yuan)要求(qiu)比較嚴格的(de)廠(chang)家都會(hui)用(yong)電(dian)子負(fu)(fu)載(zai)(zai)來檢測(ce)電(dian)源(yuan)的(de)好壞(huai)。它(ta)有好多功能，可以調節負(fu)(fu)載(zai)(zai)大小，以及短路(lu)，過流，動態等等，應該(gai)說所有的(de)電(dian)源(yuan)廠(chang)家都會(hui)有用(yong)，而且也必(bi)須有。