產品型號：

廠商性質：經銷商

所在地：深圳市

訪問量：724

更新時間(jian)：2021-05-17

產品簡介：

優質供應chroma19501-k局部放電測試器 

主要特色：

• 單機內建高電壓耐壓測試與PD偵測功能
• 可程式交流電壓 0.1kVac ~ 10KVac
• 高精度及高解析度電流錶 0.01uA ~ 300uA
• 局部放電(PD)偵測範圍 1 pC ~ 2000 pC
• 高壓接觸檢查功能(HVCC)
• 符合IEC60747-5-5與IEC 60270-1 法規測試要求
• 內建IEC60747-5-5 測試方法
• 三段電壓測試功能
• PD測量結果數字化顯示(pC)
• PD 不良發生判定次數設定 (1~10)
• 繁中/ 簡中 / 英文操作介面
• USB畫面擷取功能
• 圖形化輔助編輯功能
• 標準LAN, USB, RS232遠端控制介面

優質供應chroma19501-k局部放電測試器 

Chroma 19501-K 局部(bu)放電測(ce)(ce)(ce)(ce)試(shi)器(qi)結合(he)高(gao)電壓(ya)耐壓(ya)測(ce)(ce)(ce)(ce)試(shi)與局部(bu)放電(Partial Discharge)偵(zhen)測(ce)(ce)(ce)(ce)功(gong)能於一單(dan)機，提供交(jiao)流電壓(ya)輸出最大10kV，漏電流量測(ce)(ce)(ce)(ce)範(fan)圍從0.01uA~300uA，局部(bu)放電偵(zhen)測(ce)(ce)(ce)(ce)範(fan)圍最小可偵(zhen)測(ce)(ce)(ce)(ce)1pC放電量，針對高(gao)壓(ya)半導(dao)體元(yuan)件(jian)及高(gao)絕緣材(cai)料測(ce)(ce)(ce)(ce)試(shi)應用所開發。產品(pin)設計符合(he)IEC 60270-1與IEC60747-5-5法規要(yao)求，同時內建IEC 60747-5-5法規之測(ce)(ce)(ce)(ce)試(shi)方法在儀器(qi)內部(bu)，滿足光耦合(he)器(qi)產品(pin)生產測(ce)(ce)(ce)(ce)試(shi)需求，並提供給使用者(zhe)一個便利操作介面.

在生產線(xian)(xian)上執(zhi)行(xing)高(gao)壓(ya)測(ce)試(shi)(shi)(shi)時(shi)(shi)，如果被測(ce)物未能正確及良(liang)好連接測(ce)試(shi)(shi)(shi)線(xian)(xian)，將導致測(ce)試(shi)(shi)(shi)結果失敗甚至(zhi)是漏測(ce)的風險。因此，在測(ce)試(shi)(shi)(shi)前(qian)確保被測(ce)物與測(ce)試(shi)(shi)(shi)線(xian)(xian)良(liang)好連接是非(fei)常重要的。Chroma 獨(du)特之HVCC高(gao)壓(ya)接觸(chu)檢(jian)查(cha)功能(High Voltage Contact Check)，利(li)用Kelvin測(ce)試(shi)(shi)(shi)方法針對高(gao)絕緣(yuan)能力之元件於高(gao)壓(ya)輸(shu)出時(shi)(shi)同步進行(xing)接觸(chu)檢(jian)查(cha)，提(ti)升其測(ce)試(shi)(shi)(shi)可靠度與效率(lv)。