服務熱線
0755-23217122
產品型號:
廠商性質:經銷商
所在地:深圳市
訪問量:1018
更新時間:2022-04-26
產品簡介:
品牌 | 同惠電子 | 產地類別 | 國產 |
---|---|---|---|
應用領域 | 化工,電子 |
TH2840AX變壓器測試系統TH2840BXTH2840NX簡介
TH2840X系(xi)列自動(dong)(dong)變壓(ya)器(qi)測試(shi)系(xi)統(tong)(tong)是常州同惠電子在多年(nian)變壓(ya)器(qi)測試(shi)的(de)經(jing)驗上,采用了新(xin)(xin)(xin)一(yi)代技術成功的(de)新(xin)(xin)(xin)一(yi)代自動(dong)(dong)變壓(ya)器(qi)測試(shi)系(xi)統(tong)(tong),創新(xin)(xin)(xin)性的(de)采用了雙CPU架構、Linux底(di)層系(xi)統(tong)(tong)、10.1寸(cun)電容式觸摸(mo)屏、中英(ying)文操作(zuo)界面、內置(zhi)使用說明及幫助等(deng)新(xin)(xin)(xin)一(yi)代技術,解決了以往測試(shi)系(xi)統(tong)(tong)設置(zhi)繁瑣、測試(shi)速度(du)慢、顯示補全(quan)、PIN腳位不(bu)足(zu)等(deng)缺陷。
TH2840X系列自動(dong)變壓器測試系統得益(yi)于采用(yong)了(le)(le)10.1寸、分(fen)辨(bian)率達1280*800的(de)電容式觸摸屏,可以將所有腳位(wei)設(she)置、測試條件(jian)、腳位(wei)串并聯、平衡設(she)置等同(tong)一(yi)屏操作(zuo)(zuo),簡化了(le)(le)設(she)置過程,更降低了(le)(le)儀器操作(zuo)(zuo)者設(she)置的(de)難度(du)。
A.革命性的設計
雙CPU架構,Linux底層,支持觸摸屏(ping)、鍵盤、鼠標,內置中英文幫助等設計,帶(dai)來的是的操作體驗,
大大降低(di)操作者準入門(men)檻,數倍(bei)提升的測試效率。
B.10.1寸大(da)屏,簡(jian)化設(she)置效率,降低(di)操作難度
10.1寸觸摸(mo)屏(ping)、1280*800分辨率(lv),觸摸(mo)式大屏(ping)幕帶來(lai)更多的好處是,把(ba)所有變(bian)壓器(qi)腳位關聯、測試參(can)數、腳位串并聯、分選(xuan)參(can)數等參(can)數放(fang)置在同一(yi)屏(ping)幕,直(zhi)接用手或(huo)者鍵(jian)盤鼠標操(cao)(cao)作,不僅操(cao)(cao)作快速而且(qie)看(kan)起來(lai)絕不擁擠和雜亂(luan)。
根(gen)據同惠電子在變(bian)壓(ya)器(qi)測(ce)試(shi)領域(yu)十多年的(de)耕耘,針(zhen)對(dui)早(zao)期自動變(bian)壓(ya)器(qi)綜合測(ce)試(shi)系統(tong)在測(ce)試(shi)中遇(yu)到(dao)的(de)問(wen)題,一直在持續改進。
1.圖形化變(bian)壓器腳位關聯(lian)頁面
早期自動變壓器測(ce)試系統腳位關聯頁面設(she)置繁瑣,而且(qie)無法在第一時間將變壓器腳位、測(ce)試治具(ju)腳位一一對應(ying),設(she)置難度大
針(zhen)對這個弊病(bing),新一(yi)代(dai)自動(dong)變壓器測試(shi)系統(tong)在腳(jiao)位(wei)關聯(lian)界面增加了圖片,顏色,框線等元素,提升(sheng)了腳(jiao)位(wei)設(she)置與(yu)測試(shi)牛角的關聯(lian)性,用戶可(ke)以第一(yi)時間將(jiang)變壓器腳(jiao)位(wei)與(yu)實物進(jin)行關聯(lian),降低設(she)置難度及接線錯誤的可(ke)能性
2.單頁設置變壓(ya)器測試條件
早(zao)期自(zi)動變壓(ya)器測試系(xi)統(tong)設(she)置(zhi)測試參數(shu)需要進入不同(tong)的設(she)置(zhi)頁(ye)面,如(ru)設(she)置(zhi)Lx的相(xiang)關(guan)參數(shu),需進入6-7個不同(tong)的子頁(ye)面,相(xiang)當的繁瑣。
經過(guo)改進(jin),現多(duo)個參(can)數可以在一(yi)個頁面切換,且(qie)Lx所(suo)有相關參(can)數在一(yi)個表格內即(ji)可設置(zhi)完畢(bi),一(yi)目了然,極大(da)提高了設置(zhi)效率
3.改進腳位串、并聯設置
早期(qi)型(xing)號設置腳(jiao)(jiao)位時,需要串聯腳(jiao)(jiao)位和并聯腳(jiao)(jiao)位時,需進(jin)入各(ge)自不同(tong)的子頁面
經(jing)過改進后,直接在一個頁(ye)面里即(ji)可設置腳位串并聯(lian)
4.改進(jin)的(de)多腳位輸入方式(shi)
在變(bian)壓(ya)器(qi)掃描(miao)設置時(shi),經常(chang)需要輸(shu)入(ru)(ru)類(lei)似1,2,3,4,5,6這樣多個連續腳位輸(shu)入(ru)(ru)的情況(kuang),因此改進了(le)輸(shu)入(ru)(ru)方(fang)(fang)式,使用習(xi)慣性的類(lei)似1~6這樣表示(shi)連續方(fang)(fang)式輸(shu)入(ru)(ru)的方(fang)(fang)式,簡化了(le)顯示(shi)頁面,提高了(le)輸(shu)入(ru)(ru)效率
5.每個掃描(miao)參(can)數(shu)增加平均次數(shu)和(he)延時設置來增加穩(wen)定性
在變壓器掃描測(ce)試時,由于部(bu)分電感(gan)回路電感(gan)量(liang)較(jiao)大,需要經(jing)過一定(ding)時間的(de)穩定(ding)之后才能讀(du)到準確的(de)數值,針對(dui)此情況,對(dui)每個掃描參數增加(jia)了平均(jun)次(ci)數和延時設置來增加(jia)穩定(ding)性,同時不(bu)會影響到其(qi)他參數的(de)測(ce)試速度
6.改進漏感設置方式
在(zai)多個(ge)繞組測試漏感Lk時,早期儀器需要不斷切換(huan)對應(ying)繞組,并設置(zhi)標稱值(zhi)及極限值(zhi),非常麻(ma)煩,新一代自動(dong)變壓器測試系統改(gai)進了這種設置(zhi)方式,直(zhi)接(jie)在(zai)同(tong)一個(ge)設置(zhi)頁面(mian)即可(ke)(ke)設置(zhi)不同(tong)次級(ji)繞組的(de)腳(jiao)位及連(lian)接(jie)方式、省去了輸入(ru)漏感引(yin)腳(jiao),直(zhi)接(jie)在(zai)相應(ying)的(de)引(yin)腳(jiao)處輸入(ru)標稱值(zhi),上下限即可(ke)(ke)
7.改(gai)進(jin)了平衡掃描方式(shi)
測(ce)(ce)試(shi)多繞(rao)組變(bian)壓器平(ping)(ping)衡(heng)(heng)時,如同測(ce)(ce)試(shi)漏(lou)感一(yi)(yi)樣,早期(qi)儀器需要不斷切換次級(ji)平(ping)(ping)衡(heng)(heng)腳位(wei)并設(she)置(zhi)對應極限值,新一(yi)(yi)代自動(dong)變(bian)壓器測(ce)(ce)試(shi)系統改(gai)進(jin)了此設(she)置(zhi),將所有(you)平(ping)(ping)衡(heng)(heng)設(she)置(zhi)項目在同一(yi)(yi)頁(ye)面即可設(she)置(zhi),針對早期(qi)平(ping)(ping)衡(heng)(heng)點數最多只有(you)5個(ge)點的(de)不足,升級(ji)到了10個(ge)點
C.LCR測量功能
1. 此(ci)功能為選(xuan)件
2.詳(xiang)細功能及指標請(qing)參考TH2840系列LCR數(shu)字(zi)電(dian)橋技術參數(shu)
應用
■ 開關變壓器掃描測試、綜合特性分析
■ 網絡變壓器掃描測試,綜合特性分析
■ 分立無源元件(電感L,電阻R,電容C)多路掃描測試
■ 繼電器驅動線包、觸點接觸電阻多路掃描測試
■ 多路直流電阻DCR掃描測試
■ 阻抗網絡多個無源器件綜合測試分析
TH2840AX變壓器測試系統TH2840BXTH2840NX技術參數
產品型號 | TH2840AX | TH2840BX | TH2840NX | |
顯示 | 顯示器 | 10.1英寸(對(dui)角(jiao)線(xian))電(dian)容觸摸屏 | ||
比例 | 16:9 | |||
分辨(bian)率 | 1280×RGB×800 | |||
測試頻(pin)率 | 范圍 | 20Hz-500kHz | 20Hz-2MHz | 20Hz-500kHz |
精度 | 0.01% | |||
分(fen)辨率 | 0.1mHz (20.0000Hz-99.9999Hz) | |||
1mHz (100.000Hz-999.999Hz) | ||||
10mHz (1.00000kHz-9.99999kHz) | ||||
100mHz (10.0000kHz-99.9999kHz) | ||||
1Hz (100.000kHz-999.999kHz ) | ||||
10Hz (1.00000MHz-2.00000MHz) | ||||
AC測(ce)試信號(hao)模式 | 額定值(ALCOFF) | 設定電壓(ya)為測試(shi)端(duan)開路時Hcur電壓(ya) | ||
設(she)定電(dian)(dian)流(liu)為測(ce)試端短路時從Hcur流(liu)出電(dian)(dian)流(liu) | ||||
恒定值 (ALCON) | 保持(chi)DUT上電壓(ya)與設定值相同 | |||
保持DUT上電(dian)流(liu)與設定(ding)值相同 | ||||
測試電平 | 電(dian)壓范圍 | 5mVrms-20Vrms | F≤1MHz 5mVrms-20Vrms F>1MHz 5mVrms-15Vrms | 5mVrms-20Vrms |
準確度 | ±(10%×設定值+2mV)(AC≤2Vrms) ±(10%×設定值+5mV)(AC>2Vrms) | |||
分辨率 | 1mVrms(5mVrms-0.2Vrms) | |||
1mVrms(0.2Vrms-0.5Vrms) | ||||
1mVrms(0.5Vrms-1Vrms) | ||||
10mVrms(1Vrms-2Vrms) | ||||
10mVrms(2Vrms-5Vrms) | ||||
10mVrms(5Vrms-10Vrms) | ||||
10mVrms(10Vrms-20Vrms) | ||||
電流范圍 | 50μArms-100mArms | |||
分辨率(100Ω 內阻) | 10μArms(50μArms-2mArms) | |||
10μArms(2mArms-5mArms) | ||||
10μArms(5mArms-10mArms) | ||||
100μArms (10mArms-20mArms) | ||||
100μArms (20mArms-50mArms) | ||||
100μArms (50mArms-100mArms) | ||||
RDC測試 | 電壓范圍 | 100mV-20V | ||
分辨率 | 1mV(0V-1V) | |||
10mV(1V-20V) | ||||
電流(liu)范圍 | 0mA-100mA | |||
分辨率 | 10μA(0mA-10mA) | |||
100μA(10mA-100mA) | ||||
DC偏置(zhi) | 電壓范圍 | 0V-±40V | ||
準確度 | AC≤2V 1%×設(she)定電壓+5mV | |||
AC>2V 2%×設定電(dian)壓(ya)+8mV | ||||
分辨率 | 1mV(0V - ±1V) | |||
10mV(±1V - ±40V) | ||||
電(dian)流范圍(wei) | 0mA-±100mA | |||
分辨率 | 10μA(0mA-10mA) | |||
100μA(10mA-100mA) | ||||
內置電流(liu)源 | 電流(liu)范圍 | 0mA-2A | ||
準確度 | I>5mA ±(2%×設定值+2mA) | |||
分辨(bian)率 | 1mA | |||
輸出阻抗 | 30Ω,±4 @1kHz | |||
100Ω,±2 @1kHz | ||||
LCR模塊測(ce)量參數(shu) | ||||
測(ce)量(liang)參數 | 方式 | 四參數任意選擇 | ||
AC | Cp/Cs、Lp/Ls、Rp/Rs、|Z|、|Y|、R、X、G、B、θ、D、Q、VAC、IAC | |||
DC | RDC、VDC、IDC | |||
測試端配置(zhi) | 四端(duan)對 | |||
測試(shi)電纜長度(du) | 0m、1m、2m、4m | |||
數學運算 | 與(yu)標(biao)稱值的絕對偏差Δ,與(yu)標(biao)稱值的百分比(bi)偏差Δ% | |||
等效方式 | 串聯(lian)(lian)、并聯(lian)(lian) | |||
校準(zhun)功能 | 開(kai)路OPEN、短路SHORT、負載LOAD | |||
測量(liang)平均 | 1-255次 | |||
量(liang)程選擇 | 自動(dong)(dong)AUTO、手(shou)動(dong)(dong)HOLD | |||
量程配置 | LCR | 100mΩ、1Ω、10Ω、20Ω、50Ω、100Ω、200Ω、500Ω、1kΩ、2kΩ、5kΩ、10kΩ、20kΩ、50kΩ、100kΩ | ||
RDC | 1Ω、10Ω、20Ω、50Ω、100Ω、200Ω、500Ω、1kΩ、2kΩ、5kΩ、10kΩ、20kΩ、50kΩ、100kΩ | |||
測量時間(ms) | 快速(su)+:0.56ms 快速:3.3ms 中速:90ms 慢速:220ms | |||
最高(gao)準確(que)度 | 0.05%(具(ju)體(ti)參(can)考(kao)說明書) | |||
測量(liang)顯示范(fan)圍(wei) | ||||
Cs、Cp | 0.00001pF-9.99999F | |||
Ls、Lp | 0.00001μH-99.9999kH | |||
D | 0.00001-9.99999 | |||
Q | 0.00001-99999.9 | |||
R、Rs、Rp、X、Z、RDC | 0.001mΩ-99.9999MΩ | |||
G、B、Y | 0.00001μs-99.9999S | |||
VDC | ±0V-±999.999V | |||
IDC | ±0A-±999.999A | |||
θr | -3.14159-3.14159 | |||
θd | -179.999°-179.999° | |||
Δ% | ±(0.000%-999.9%) | |||
TurnsRatio | 1:0.001—1000:1 | |||
LCR模塊其他測試參數(shu)請參考TH2840系列LCR數(shu)字電(dian)橋技術參數(shu)部(bu)分 | ||||
變壓器測量 | ||||
測試參數(shu) | Cs/Cp:電容、Ls/Lp:電感(gan)(gan)、DCR:直流電阻、Zx:阻抗(kang)、Rs/Rp:電阻、D:損耗、Q:品質因(yin)數、dZ:相(xiang)位角(jiao)、Lk:漏感(gan)(gan)、Phase:相(xiang)位)、Balance:平衡 Turns-Ratio(圈數比(bi)):Ns:Np=U2/U1,Np:Ns=U1/U2 Turns(圈數):Ns=Np×U2/U1,Np=Ns×U1/U2 | |||
測試模式 | 連續 | 在單次(ci)(ci)觸發方式下(xia),手(shou)動(dong)觸發一次(ci)(ci),測完(wan)所(suo)設置的(de)變(bian)壓器所(suo)有(you)測試參(can)數一次(ci)(ci) | ||
單步 | 在單次(ci)(ci)觸(chu)(chu)發(fa)方(fang)式(shi)下,手動觸(chu)(chu)發(fa)一次(ci)(ci),測(ce)量(liang)變壓器的一個測(ce)量(liang)參數,再觸(chu)(chu)發(fa)一次(ci)(ci),再測(ce)下一個參數 | |||
測量時間(ms) | 快速 | 快(kuai)速:3.3ms, 快(kuai)速+:1ms(>10kHz) | ||
中速 | 中速:90ms | |||
慢速 | 慢速:220ms | |||
偏置(zhi)源 | 參(can)考偏(pian)置部分參(can)數 | |||
平(ping)均(jun)次數 | 每(mei)個測試參數(shu)(shu)可(ke)以設置(zhi)不(bu)同的平均次數(shu)(shu),平均次數(shu)(shu)為0-255 | |||
延時(shi) | 每個測試參(can)數可以設置不同的延時時間(jian), | |||
變壓器掃描(miao) | ||||
內置掃描路(lu)數(PIN) | 6×(24×2)=288PIN(AX,BX無內(nei)置掃描板) | |||
變壓(ya)器HANDLE接口 | 引腳(jiao)定義 | NS1-NS30、GOOD、NG、TEST、觸發(fa)、復位(與TH2829X系列一致(zhi))(NX)(AX,BX NSI-NS9) | ||
輸出特(te)點 | 光耦隔離,ULN2003驅動增強,集電極輸出 | |||
模式 | 直讀、百分比 | |||
量程 | 自動、保持 | |||
偏置源 | 參考(kao)偏(pian)置部分參數 | |||
外接(jie)掃(sao)描盒(he) | 兼容TH1901系列、TH1831掃(sao)描盒 | |||
繞組數 | 初級 | 60 | ||
次(ci)級 | 9 | |||
平均次數 | 每個測試參數(shu)可以(yi)設置不(bu)同的(de)平(ping)均(jun)次數(shu),平(ping)均(jun)次數(shu)為0-255 | |||
延時 | 每個測試參數可(ke)以設置不同的延時時間 | |||
測(ce)量時間(ms) | 快速 | 快(kuai)速:3.3ms(≥1kHz), 快(kuai)速+:1ms(≥10kHz) (不含繼電器動(dong)作時間) | ||
中速 | 中(zhong)速(su):90ms | |||
慢速(su) | 慢速(su):220ms | |||
測試(shi)引線接口(kou) | 25*2pinFRC插座,引腳順序(xu)與TH2829系(xi)列(lie)*相同(NX) | |||
其他功能及參數 | ||||
存儲調用 | 內部(bu) | 約100M非易失存儲器(qi)測試設定文件 | ||
外置USB | 測試設(she)定文件、截屏圖形、記(ji)錄(lu)文件 | |||
鍵盤鎖定 | 可鎖(suo)定前面板(ban)按鍵 | |||
接口 | USB HOST | 2個USB HOST接口,可同時接鼠標、鍵盤,U盤同時只能使用一個 | ||
USB DEVICE | 通用串行總線插座,小型B類(lei)(4個接觸(chu)位(wei)置);與USBTMC-USB488和(he)USB2.0相符合(he),陰(yin)接頭(tou)用于連接外部控制(zhi)器。 | |||
LAN | 10/100BaseT以太(tai)網,8引腳,速度自適應 | |||
HANDLER | 用于(yu)Bin分(fen)檔信(xin)號輸出 | |||
外部DC BIAS 控制 | 支持(chi)(chi)TH1778A(變壓器掃(sao)描不支持(chi)(chi)) | |||
RS232C | 標準9針(zhen),交(jiao)叉 | |||
RS485 | 可以接收改(gai)制或外接RS232轉RS485模塊 | |||
開(kai)機預熱時間 | 60分鐘 | |||
輸入電壓(ya) | 100-120VAC/198-242VAC可選擇,47-63Hz | |||
功耗 | 不小于(yu)130VA | |||
尺寸(WxHxD)mm3 | 430mm(W)x177mm(H)x265mm(D) | 430mm(W)x177mm(H)x405mm(D) | ||
重量 (kg) | 11kg | 17kg |